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智能型时间继电参数测试台

Intelligent time relay parameter test bed
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摘要 介绍了用单片机控制的智能时间继电器参数检测系统,分析了该系统的总体结构和各部分设计思想及原理.该系统具有很强的实用价值. An intelligent time relay parameter checking system which controlled by single chip computer is introduced. Its overall structure and design principle are also analyzed .The system is of great practical value.
出处 《武汉水利电力大学学报》 CSCD 1999年第4期79-81,共3页 Engineering Journal of Wuhan University
关键词 单片处理机 时间继电器 参数 测试 延时继电器 single chip processor time relay parameter testing
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参考文献1

  • 1李华.MCS-51系列单片机实用接口技术[M].北京:航空航天大学出版社,1996..

共引文献33

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