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基于调制度测量的三维轮廓术 被引量:30

3-D Profilometry Based on Modulation Measurement
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摘要 介绍了基于调制度测量的三维轮廓术的测量方法的原理和过程, 并给出了实物测量。结果证明它在原理上是正确的、可行的。此方法对三维轮廓术、三维传感及机器视觉的应用具有重要意义。 D profilometry based on modulation measurement (MMP) depends on the modulation distribution of the sinusoidal fringes projected on objects. The projecting direction is the same as the detecting direction, it can measure the objects with shadow, discontinuous height steps and spatial isolation on them. The detailed introduction on the principle and processing method of MMP and the measuring results for an object are presented. The results proved that MMP was correct in principle and effective in actual measurement. This method will be useful for 3 D profilometry、 3 D sensing and machine vision etc.
出处 《光学学报》 EI CAS CSCD 北大核心 1999年第9期1257-1262,共6页 Acta Optica Sinica
基金 国家自然科学基金
关键词 光学三维轮廓术 调制度测量 相移 optical 3 D profilometry, modulation measurement, phase shift.
  • 相关文献

参考文献5

  • 1Su Xianyu,SPIE.3558,1998年,1页
  • 2Su Xianyu,Opt Commun,1993年,98卷,1/3期,141页
  • 3Su Xianyu,Opt Commun,1992年,94卷,6期,561页
  • 4Su Xianyu,SPIE.954,1988年,32页
  • 5Srinicasan V,Appl Opt,1984年,23卷,18期,3105页

同被引文献255

引证文献30

二级引证文献285

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