测试基准原理:改进模拟的若干技巧

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摘要今天,IC设计者面对着一个很大的挑战,即怎样模拟具有上千种特性同时又有上百种功能模式的复杂的百万门电路的设计。本文叙述了用于开发VEGA芯片和数字增强型无绳通讯(DECT)基带处理器的方法。这个方法适用于所有使用高级语言(VHDL或Verilog)的开发,并且在设计再利用这个非常敏感的领域中具有重要意义。

作者何凤艳樊桂花

出处《国外电子测量技术》 1999年第4期17-17,26,共2页 Foreign Electronic Measurement Technology

关键词测试基准测试组件模拟技术 IC

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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1999年第4期

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