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半导体X射线检测器

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出处 《国外传感技术》 1999年第4期127-129,共3页
关键词 X射线检测器 半导体 检测器
分类号 TN36 [电子电信—物理电子学] TH74 [机械工程—光学工程]
  • 相关文献
国外传感技术
1999年 第4期

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