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(e,2e)反应中剩余电子的屏蔽效应对三重微分截面的影响 被引量:1

The Influence of the Shield Effect of the Residual Electron on the Triple Differential Cross Sections in (e, 2e) Processes
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摘要 在考虑了He原子(e,2e)过程中,剩余电子对核的有效屏蔽之后,用修正后的BBK理论计算了入射能为40eV时,共面不对称几何条件下电子入射离化He原子的三重微分截面(TDCS).结果表明:该文得到的理论曲线更接近实验数据. In this works, the triple differential cross sections for electron impact ionization of atomic at incident energies of 40eV in asymmetric geometry are calculated by use of the modified BBK model after the shield effect of the residual electron is considered for the (e, 2e) processes on helium. It has been found that the present results give a better description for the experimental data.
作者 张穗萌
出处 《六安师专学报》 1999年第2期10-13,共4页
基金 安徽省高校中青年骨干教师资助基金项目
关键词 原子核反应 剩余电子 微分截面 氦原子 屏蔽效应 shield modification effective charge
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