摘要
采用了一种新的电路描述方法，适用于ＣＭＯＳ开关级电路及桥接故障模型；给出了几个主要的数据类型及操作；介绍了基本算法，并分析了算法的主要特点；根据这一算法，设计了一个实用测试生成系统，并以标准电路Ｔ７４１８１为例。
A new representation of circuits is presented, which applies to a CMOS switchlevel circuit and a bridging fault model. Several data types are given, and a basis algorithm is described. This paper analyses the characters of this algorithm, On the basis of this algorithm, designs a convenient test generation system. And a simulate test to the benchmark T74181 has been made.
出处
《湘潭大学自然科学学报》
EI
CAS
CSCD
1999年第2期117-120,共4页
Natural Science Journal of Xiangtan University
基金
国家自然科学基金
