基于Stellaris^(TM)系列微控制器的ADC滑动平均过采样技术

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摘要 StellarisTM系列微控制器的部分产品中集成了ADC模块。ADC的硬件分辨率为10位,但由于噪音和其它使精度变小的因素的影响,实际的精度小于10位。本文提供了一个基于软件的过采样技术,从而使转换结果的有效位数(ENOB)得到改善,并描述了对输入信号执行过采样的方法,以及在精度和整个系统性能上的影响。

作者涂立汪彦

机构地区湖南城市学院计算机科学系

出处《中国新技术新产品》 2010年第12期32-33,共2页 New Technology & New Products of China

基金湖南省教育厅2009年科技计划资助项目(09c203) 湖南省益阳市2009年科技计划资助项目(2009JZ12)

关键词有效位数 ADC模块过采样

分类号 TN911.72 [电子电信—通信与信息系统]

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