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SIMS在半导体生产中的应用

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摘要 介绍SIMS分析技术在半导体生产中的几个典型应用实例:在材料分析方面的应用---鉴别杂质成分;在工艺分析方面的应用--了解工艺情况;在解剖分析方面的应用-获得器件内部组成成分。以此说明SIMS分析技术在半导体生产中的重要性。
作者 赵梦壁
出处 《真空科学与技术》 CSCD 北大核心 1998年第A12期136-139,共4页 Vacuum Science and Technology
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参考文献2

  • 1Blattner R J, Evans C A. Jr High-performace Secondary Ion Mass Spectrometry Scanning Electron Microscopy/1980/ IV SEM INC,AMF O'HARE(Chicago), IL 60666,USA.
  • 2Crassenbauer M,Wilnaritz P, Stingeder G. In-situ Trac Analysis of Materials with SIMS.

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