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存储器混载系统LSI的测试

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摘要在一枚芯片上集成有存储器和逻辑电路时,由于两种电路功能不同,测试技术日趋复杂;原来用于存储器和逻辑电路的传统测试方法,都已经遇到难以克服的困难;为了克服困难简化系统LSI的测试提出了若干设想。

作者林林

出处《电子测试》 1998年第11期24-26,共3页 Electronic Test

关键词存储器 LSI 测试混载系统

分类号 TN470.7 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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电子测试

1998年第11期

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