第7届IC的先进光子学失效分析技术国际研讨会

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摘要由复旦大学和日本Hamnmntsu Photonics K．IC联合举办的第7届IC的先进光子学失效分析技术国际研讨会（APFA08）于2008年11月27日在上海复旦大学成功举行。此次研讨会的召开时间恰逢世界金融危机不断向实体经济迅速扩展之时，微电子产业也经受了极其猛烈的冲击，不少企业减产、裁员、停工甚至倒闭。但此次APFA08研讨会依然得到了微电子业界的热烈响应，

作者汪家楫

机构地区复旦大学材料科学系

出处《国际学术动态》 2010年第1期55-56,共2页 International Academic Developments

关键词国际研讨会失效分析光子学 IC 技术上海复旦大学微电子产业实体经济

分类号 F426.63 [经济管理—产业经济] TN2 [电子电信—物理电子学]

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