期刊文献+

EEPROM软件分区使用技术 被引量:6

Distributable Usage in EEPROM by Software Program
在线阅读 下载PDF
导出
摘要 针对电子产品在寿命期内发生的EEPROM失效问题,提出了存储器分区使用的方法。以AT24C64为对象,运用相关的分区算法,把存储器分成了四块容量相等的独立区域,当一块独立区域的某一单元发生失效时,程序可自动选择下一独立区域作为存储区域,并把上一块未发生失效的其他单元的数据存储到当前区域。试验结果验证了设计的可行性,解决了EEP-ROM失效后数据保存及是否更换器件等问题,在一定程度上提高了产品的可靠性,降低了产品成本。 According to the EEPROM failure happening during the life of electronic product, the author puts forward the method of distributable usage for memory register. The paper, setting AT24C64 as an example, using some special related algorithm, divide the storage into four independent parts. The equipment proves the possibility of the algorithm, which will successfully solve the problem of storage of existing data and determination of what whether it’s necessary to exchange the equipment or not, usually happening after the failure of EEPROM. The method not only can improve the reliability, but also decrease the cost of the product to some extent. Furthermore, it's a good illumination to the usage of other memory register.
出处 《微计算机信息》 2010年第2期20-22,共3页 Control & Automation
基金 基金申请人:郑文刚 项目名称:农业节水灌溉监测与控制设备研制与开发 基金颁发部门:北京市科技攻关项目(D0706007040191) 基金申请人:郑文刚 项目名称:国外先进农业信息技术引进与创新 基金颁发部门:农业部948项目(2006-G63) 基金申请人:郑文刚 项目名称:农产品流通过程信息化关键技术与系统研发 基金颁发部门:国家"十一五"科技支撑计划(2006BAD10A04) 基金申请人:郑文刚 项目名称:灌区地下水开发利用关键技术 基金颁发部门:国家"十一五"科技支撑计划(2006BAD11B05)
关键词 EEPROM 失效 分区使用 EEPROM Failure Distributable usage
  • 相关文献

参考文献7

二级参考文献15

  • 1于宗光,许居衍,魏同立.集成电路的可靠性模型与模拟[J].固体电子学研究与进展,1996,16(2):174-184. 被引量:3
  • 2于宗光,许居衍,魏同立.EEPROM单元结构的变革及发展方向[J].固体电子学研究与进展,1996,16(3):233-240. 被引量:11
  • 3赵晓玲.单片机在指纹保险柜中的应用[J].微计算机信息,2006,22(07Z):134-136. 被引量:8
  • 4Dickson J F.On-chip high-voltage generation in MNOS integrated circuits using an improved voltage multiplier technique[J].IEEE J Sol Sta Circ,1976,11(3):374-378.
  • 5Finkenzeller K.RFID handbook:radio frequency identification fundamentals and applications[M].New York:John Wiley & Sons Inc,1999.
  • 6Liu X,proc of ICSICT’95
  • 7Xu M,proc of ICSICT’95
  • 8Franklin D Nkansah.Technology and reliability of submicron 1T-flash EEPROM[M].Bell&Howell Information and Learning Company,2001:1-22.
  • 9Nobuaki Otsuka,Mark A Horowitz.Circuit techniques for 1.5V power supply flash memory[J].IEEE J.Solid-State Circuit,1997,32(8):392-396.
  • 10Yu Tat-Kwan,Jack Higman,Craig Cavins,et al.An EEPROM model for low power circuit design and simulation[M].IEDM Tech.Digest,1994:152-157.

共引文献25

同被引文献28

引证文献6

二级引证文献12

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部