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聚合物电缆绝缘中缺陷微粒的 Mie 散射特性 被引量:2

Mie Scattering Characteristics of Defects Particle in Polymeric Insulation for Power Cables
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摘要 应用Mie散射理论分析了聚合物电缆绝缘中的缺陷微粒光散射角度特性,发现在8°~20°,60°~80°两个角度窗口黑色杂质,微气孔和混合不好的抗氧剂微粒的散射光强有明显区别,实验结果证实了这一发现。此结论可以被用来作为高压电缆绝缘中缺陷微粒检测时的识别判据。 Mie scattering theory was used to analyze the angular characteristics of defect particles.It has been found that there would be distinct scattering intensity difference among the black partides,microvoids and antioxidant as the defects in polyethylene insulating in 8°~20° and 60°~80°“angular windows” This discovery has been confirmed experimentally.These results can be used to detect and discriminate the type of the defects in high voltage cable insulation.
出处 《电机与控制学报》 EI CSCD 1998年第3期178-181,共4页 Electric Machines and Control
关键词 聚合物绝缘 材料缺陷 MIE散射 电缆 缺陷微粒 polymeric insulation Material defects light absorption and scattering
  • 相关文献

参考文献3

二级参考文献10

  • 1蔡颐年,湿蒸汽两相流,1985年
  • 2顾冠亮,上海机械学院学报,1984年,5卷,4期,21页
  • 3王竹溪,特殊函数概论,1979年
  • 4吕乃光,傅里叶光学,1988年
  • 5李正直,红外光学系统,1986年
  • 6赵洪,IEEE Trans on Electrical Insulation,1991年,2期,217页
  • 7李正直,红外光学系统,1986年
  • 8加斯基尔 J D,线性系统.傅里叶变换.光学,1983年
  • 9田等先,半导体光电器件,1982年
  • 10赵洪,孙持平,邹元传,赵宏伟.应用激光扫描法测置XLPE电缆绝缘中杂质颗粒的研究[J].仪器仪表学报,1992,13(2):181-187. 被引量:5

共引文献11

同被引文献14

  • 1赵洪,崔思海,王暄,屠德民.激光扫描式高压交联聚乙烯电缆料杂质颗粒测量装置的研制[J].中国电机工程学报,1996,16(2):139-141. 被引量:7
  • 2张卫杰,侯孝民.高速大容量数据采集系统设计与实现[J].电子测量与仪器学报,2005,19(4):51-55. 被引量:25
  • 3陆永忠,刘峰,陆永祥.便携式高速数据采集测控系统的研究[J].仪器仪表学报,2006,27(8):956-960. 被引量:6
  • 4赵洪,王暄,西安交通大学.聚烯烃化合物中杂质颗粒的激光扫描检测[J].西安交通大学学报,1996,30(8):1-6. 被引量:3
  • 5KAMINAGA K, ICHIHARA M, JINNO M, et al. Development of 500kV XLPE cable and accessories for long-distance underground transmission lines (Part Ⅴ): long-term performance for 500kV XLPE cables and joints [J]. IEEE Trans on Power Deliver, 1996, 11(3):1 185-1 192.
  • 6JOCTCUR R. Development in France of 63 to 400kV cable with synthetic insulation [A]. Conference Record of the 1985 ICPADM[C]. Xi' an, China: IEEE Society on Electrical Insulation Chinese Electrotechnical Society-Dielectric Committee 1985, Vol. 2, 676-681.
  • 7ZHAO H, TU D, LIU Z. Holograph sizing of contaminants in XLPE cables[J]. IEEE Trans on El, 1991, (4): 217-221.
  • 8CAMPUS A, et al. Laser-based determination of the cleanliness of high voltage of the high voltage insulating compound[J]. ND T International, 1985, 18(4):199-202.
  • 9PRUNK H. Insulating material cleanliness in production of XLPE cable[J]. Wire Industry, 1997, 64(762): 359.
  • 10加斯基尔J D.线性系统@傅立叶变换@光学[M].封开印译.北京:人民教育出版社,1993.

引证文献2

二级引证文献7

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