期刊文献+

低压电器多因子可靠性试验设计和分析 被引量:1

Design and Analysis for Low Voltage Apparatus Multiple Factor Reliability Experiment
在线阅读 下载PDF
导出
摘要 低压电器可靠性试验受多个因子的影响,如环境温湿度、触头电流、操作频繁程度等的影响。介绍了采用管理学的正交试验原理与方法进行设计试验,并通过实例说明了这种设计方法分析的具体过程。研究表明,针对低压电器可靠性试验受多因子影响的特点,该方法具有独特的数字处理功能。 Low voltage apparatus reliability experiment was affected by many factors,such as ambient temperature,dampness,current through contactor,operation frequency etc.In this paper,it introduced the theory of taking the orthogonal test principle and method of management to design the tests,and gave an the analysis process of a concrete example.The research indicated that the methodology has unique maths processing function for low voltage apparatus multiple factor reliability experiment.
作者 任世彬 陈鹏
出处 《低压电器》 北大核心 2009年第21期7-11,共5页 Low Voltage Apparatus
关键词 低压电器 可靠性 多因子 统计分析 low voltage apparatus reliability multiple factor statistic analysis
  • 相关文献

参考文献5

  • 1LANDERS T L. A reliability simulation approach for use in the design process[ J]. IEEE Trans on Relisbility, 1991, 40(2) :177-187.
  • 2ORMON S W. Reliability prediction models to support conceptual design [J].IEEE Trans on Reliability, 2002,5(2) :151-157.
  • 3GJB/Z299B--98电子没备可靠性预计手册[S].
  • 4机械电子工业部科技司,机械研究院可靠性研究中心.机电产品可靠性考核评定方法汇编[G].1990.
  • 5WAYNE N. Accelerated testing-statistical model, test plans, and data analysis[ M ]. New York: A Wiley-Inter Science Publication, John Wiley&Sons, 1990.

同被引文献15

引证文献1

二级引证文献2

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部