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梅特勒-托利多庆祝XS分析天平荣获R&D100大奖5周年

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摘要 梅特勒-托利多XS分析天平在2004年荣获了由美国著名科技杂志《R&D》颁发的R&D100大奖,以表彰梅特勒.托利多为称量技术的创新作出的卓越贡献。为了庆祝XS分析天平荣获R&D100大奖5周年,回报并感谢广大中国用户对梅特勒-托利多天平产品的一贯支持,特推出以下XP/XS分析天平产品的置换补贴促销活动:只要您购买XP/XS分析天平,
出处 《实验与分析》 2009年第5期58-58,共1页 LABOR PRAXIS

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