摘要
高纯汞中杂质含量直接影响碲镉汞单晶材料和器件的电学性能。用普通石墨炉原子吸收法直接测定高纯汞中痕量杂质已有报道,但受基体、酸度的影响,灵敏度和精度提高受到一定限制。本工作采用真空蒸馏与塞曼效应石墨炉原子吸收法相结合对高纯汞中杂质Fe、Al、Ni、Cr、Cu、Ag和Mn等元素的测定方法进行了探讨,对此选择了最佳测定条件,方法简便、快速,灵敏度高。
出处
《理化检验（化学分册）》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第1期22-23,26,共3页
Physical Testing and Chemical Analysis(Part B:Chemical Analysis)
