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X射线荧光光谱法测定钨矿中主次元素 被引量:13

Determination of Major and Minor Elements in Tungsten Ores by X-ray Fluorescence Spectrometry
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摘要 本文中笔者采用熔融玻璃片法制样,使用X射线荧光光谱法测定钨矿石中的钨、磷等主次元素,所用校准标样是用符合国家一级标准的物质由人工配制而成,并用理论α系数内标法及康普顿散射作内标校正基体效应,其分析结果与标准值相符。精密度统计结果显示,主、次量组分方法精密度(RSD,n=10)为0.371%~6.806%。该方法做到了简便、快捷、经济且减少环境污染。 An analysis method is developed to measur the major and minor elements in tungsten ores by x-ray fluorescence spectrometry with preparing fusion bead. The national standard substance is used for calibration samples. The matrix effect is corrected using the theoretical alpha coefficients and Compton scattered radiation as internal standard. The results are consistent with certified values. The precision experiment shows that the precision of method is 0.371% - 6.806%(RSD, n=10) for the major and minor elements. This method works simply, rapidly, economicaly with entironmental protection.
出处 《地质调查与研究》 2009年第1期64-68,共5页 Geological Survey and Research
基金 国家地质大调查项目(1212010816023)
关键词 X射线荧光光谱法 熔融片 熔剂 钨矿石 XRFS glass flux sheet fusion reagent tungsten ore
  • 相关文献

参考文献7

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二级参考文献14

共引文献51

同被引文献665

引证文献13

二级引证文献126

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