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Hoffman脑模型用于SPECT脑断层有关技术因素的探讨

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摘要 Hofman脑模型用于SPECT脑断层有关技术因素的探讨管一晖赵晋华林祥通刘兴党张锦明Hofman脑模型是判断脑断层显像质量的重要方法之一,本文拟从模型测试SPECT性能着手,探讨临床脑SPECT显像常遇到的若干技术影响因素,以利提高显像质量。材料与...
出处 《中华核医学杂志》 CAS CSCD 北大核心 1998年第2期108-108,共1页 Chinese Journal of Nuclear Medicine
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