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可靠性预计技术的发展研究 被引量：2

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摘要 本文在跟踪研究国内、外可靠性预计技术发展动态的基础上，分析比较了美国MIL－HDBK－217系列和我国GJB／Z299手册的发展情况；论述了考虑早期失效、试验与现场数据、环境应力筛选等因素的预计法及各方法的代表模型；就建模基础、元器件覆盖面、费用、适用范围等方面，对新兴的失效物理学预计法与217为代表的统计学方法进行了较全面的比较分析。本文对我国可靠性预计技术的进一步发展和提高有一定的参考作用。
作者 莫郁薇 张增照 杨家铿
机构地区 电子工业部第五研究所
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 1998年第2期3-7,共5页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 电子产品 可靠性 预计技术
分类号 TB114.3 [理学—概率论与数理统计] TN601 [电子电信—电路与系统]
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参考文献1

同被引文献16

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引证文献2

二级引证文献30

电子产品可靠性与环境试验
1998年 第2期

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