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普通及米级光学元件的动态干涉测量仪

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摘要光学测量仪器生产商4D科技公司发布了一款FizCam 2000动态干涉仪，用于测量普通及米级光学元件。它是一种高性能的具有12英寸孔径的索菲干涉仪，可用于大孔径、平面光学元件的精确测量，如陆地和空间的天文系统、监视系统及其他应用。

出处《激光与光电子学进展》 CSCD 北大核心 2009年第1期8-8,共1页 Laser & Optoelectronics Progress

关键词光学测量仪器平面光学元件动态干涉精确测量天文系统监视系统干涉仪大孔径

分类号 TH74 [机械工程—光学工程] U463.834 [机械工程—车辆工程]

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激光与光电子学进展

2009年第1期

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