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一种新的XP过程软件可靠性预测模型

A New Software Reliability Growth Model for XP Process
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摘要 研究了基于XP软件制造过程的一种软件可靠性预测方法,该方法把XP过程中每阶段用户反馈的信息尽量的考虑进数学模型的建立,为预测XP过程软件可靠性提供了一个新的思路。 Author tried to build a new SRGM for XP programming process by taking as much information into account and show a new way to estimate the software reliability.
作者 吴智 王晓华 赵明
机构地区 贵州大学
出处 《贵州大学学报（自然科学版）》 2008年第6期565-567,共3页 Journal of Guizhou University:Natural Sciences
关键词 XP过程 软件可靠性 齐次泊松过程 软件可靠性增长模型 XP process software reliability HPP SRGM
分类号 O211 [理学—概率论与数理统计]
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参考文献7

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共引文献10

贵州大学学报（自然科学版）
2008年 第6期

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