面阵CCD线性测量被引量：2

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摘要介绍了面阵CCD对曝光量的线性响应范围，并提出了部分扩大测量线性范围的方法。

作者袁景和王植恒

机构地区四川大学物理系

出处《实用测试技术》 CAS 1997年第6期15-18,共4页 Practical Measurement Technology

关键词面阵CCD 线性响应测量技术曝光量

分类号 TB9 [机械工程—测试计量技术及仪器]

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