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石墨样品中杂质元素的X-射线荧光光谱法直接测定 被引量:2

X-Ray Fluorescent Spectrometric Determination of Impurities in Graphite
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摘要 本文介绍X-射线荧光光谱分析石墨中15个杂质元素的方法。首次提出用化探标样按不同比例稀释在石墨粉中研制标准样品。以纤维素作粘结剂直接粉末压片,本法适用于石墨精矿和石墨产品的分析。 Rigaku 3080E_3 X-ray spectrometer is used for the rapid analysis of impurities in graphitesamples. Synthetic reference samples are prepared by mixing geochemical standard referencematerial with graphite powder(S,p.). Addition of microcrystalline cellulose to samples as abinder enables preparation of briquetes. The method appears low detection limits, high precision,and results which agree with those given by ICP-AES method.
作者 包生祥
出处 《分析测试通报》 CSCD 1989年第3期72-75,共4页
关键词 石墨 杂质元素 荧光光谱法 X射线 X-Ray fluorescence spectrometry graphite impurities analysis
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