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组合电路的主值、主值故障及其测试生成

Main Value, Main Value Faults and Test Generation for Main Value Faults in Combination Circuits
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摘要 对组合电路连线上的信号值提出用主值Z和辅值F表示,并提出用主值故障和辅值故障表示组合电路中的固定型故障模型.文中阐述了对主值故障进行测试生成的原理方法.该方法使各类基本门电路具有统一形式的功能描述,适用于由多种类型基本门电路构成的组合电路. A new method of defining signal values in a combination circuit by main value and complementary value is proposed in this paper.The use of main values and complementary values leads to a general description of different basic gate functions.Then main value faults and complementary valu faults are defined and used for describing stuck-at faults.The problem of test generation is discussed in detail, which makes test generation steps easier and faster especially for circuits composed of multi-type basic gates.
作者 郑光华
出处 《哈尔滨船舶工程学院学报》 EI CAS CSCD 1990年第3期301-309,共9页
关键词 组合电路 真值表 计算机 测试 combination circuits truth table test generation
  • 相关文献

参考文献3

  • 1魏道政.产生功能级数字电路测试码的一种算法——主路径敏化法[J]计算机学报,1982(02).
  • 2陈廷槐.四值逻辑与星算法[J]计算机学报,1979(04).
  • 3梁业伟.全通路图法[J]计算机学报,1979(04).

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