摘要
具有脆性X染色体的智力低下综合征,是男性智力低下最常见的遗传方式。脆性X染色体的特征是在X染色体长臂末端附近具有一脆性位点。脆性位点是指细胞于细胞周期的S期暴露于特定的培养基时,在染色体上出现的断裂或者裂隙。X染色体上脆性位点与相伴随的症状之间关系的本质还不清楚。此病遗传方式非同一般,已发现有男性携带者,且母亲的表型可影响子女的表型,这两种现象都无法用经典遗传学理论来解释。
出处
《国外医学（遗传学分册）》
1990年第1期31-35,共5页
Foreign Medical Sciences(Section of Genetics )
