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扫描近场光学显微镜原理及其应用 被引量:1

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摘要 扫描近扬光率显微镜(SNOM)是八七年代以来迅速发展起来的一种光学扫描探针显微技术。本文对SNOM的发展历史、基本原理、技术方法、理论问题及应用前景进行了系统的介绍。
机构地区 南开大学物理系
出处 《激光与光电子学进展》 CSCD 1997年第2期3-8,共6页 Laser & Optoelectronics Progress
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