摘要
本文对国内外薄膜电阻器瓷基体进行了全面的测量分析,其中有宏观和微观的测量。例如:瓷基体表面粗糙度的测量和等级评定,瓷基体表面开口气孔率、吸水率、体密度的测量,在微观分析方面有:瓷基体表面形貌观察与分析,瓷基体的物相分析与测量等。 通过这些分析测量,找出它们之间的联系,并和国外同类型产品相比较,找到了差距。据此指明了今后努力的方向及提高产品质量的措施等。
出处
《电子元件与材料》
CAS
CSCD
1989年第1期61-64,37,共5页
Electronic Components And Materials
