CMOS逻辑集成电路测试器

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摘要集成电路是一种类繁多非常难测的器件,因此难以用任何'万用'形式的测量表进行测量。常规测试方法是从相关级或电路中其它级查找有否故障,如果相关电路或电路其它级中都没有问题,就认为该集成电路有故障。一、输入与输出逻辑集成电路比较易于使用'万用'测试器,因为它们都具有一些共同的特点,所以比线性集成电路的测试要好一些。它们都具有一组逻辑电平。

作者雨林

出处《实用电子文摘》 1997年第3期53-56,共4页

关键词 CMOS 逻辑集成电路测试器

分类号 TN431.207 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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