摘要
本文应用扫描电镜摄获了存留在聚丙烯厚试件断口上的银纹——裂纹形态。由于银纹是由拉应力作用产生的,所以一般最大主应力σ_1造成的断面上很难观察到。银纹是高分子材料的一种准断裂行为。银纹研究的文献报导不少,Kambour作了大量工作。然而,绝大多数文献是对薄膜和薄板进行研究的,研究断口银纹工作的报导很少。本文观察研究了聚丙烯弯曲断品银纹。从材料力学得知,当试件承受弯矩作用时,中性面的一侧沿纵轴方向受拉应力σ_1的作用,另两个主应力σ_2和σ_3位于横截面上。本文拍摄的银纹——裂纹形态就是由σ_2的作用造成的。
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1990年第3期222-222,共1页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
