摘要
对半结晶的聚合物PE和PP而言,当结晶不满足Bragg取向时,靠散射反差几乎不可能区分非晶区和结晶区。所以,对大多数多相聚合物体系,相差是一种很重要的成像技术。在PP/PE共混体系中,如何区分PP和PE是聚合物透射电子显微学中的难点。本文采用相差成像技术成功地揭示出PP和PP/PE超薄膜中的片晶结构,而无需借助重金属修饰或化学染色技术。理论计算表明,只要样品足够薄,利用位相反差区分HDPE和PP的晶区是切实可行的。实验像证实了上述理论预测。
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
1990年第3期233-233,共1页
Journal of Chinese Electron Microscopy Society
