安氏Ⅱ类1分类错合Steiner臂章和Tweed分析法比较

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摘要本文对５５例安氏Ⅱ类１分类错合患者的Ｘ线头颅侧位片分别做Ｓｔｅｉｎｅｒ臂章和Ｔｗｅｅｄ分析法比较，计算矫正下前牙位置所需间隙量，并分组进行统计学分析。结果表明：当ＳＮＡ和ＳＮＢ角均正常时，两者结果无差异；当ＳＮＡ或ＳＮＢ角异常时，Ｓｔｅｉｎｅｒ臂章分析法所需间隙量大于Ｔｗｅｅｄ分析法（Ｐ＜０．０５）。本文提示在矫治安氏Ⅱ类错　时不能单凭Ｓｔｅｉｎｅｒ或Ｔｗｅｅｄ分析法就制订出治疗方案。

作者伍协阶

机构地区衡阳医学院第二附属医院口腔科

出处《衡阳医学院学报》 1996年第4期293-294,共2页

关键词错HE 下切牙位置 X线头影测量 Steiner臂章

分类号 R783 [医药卫生—口腔医学]

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