金镀层质量与超声键合点脱落浅析
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1990年第3期45-47,共3页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
-
1龙海荣,何为,何波,吴志强,吴苏.挠性印制板化学镀镍工艺研究[J].印制电路资讯,2005(3):75-76.
-
2苏章泗,黄少伟.镀金孔隙率的影响因素和测试方法[J].印制电路信息,1996,0(6):22-24. 被引量:1
-
3钱奕堂.镍金镀层对射频性能的影响[J].印制电路资讯,2003(2):36-38.
-
4杨建.化学镍金工艺探讨[J].印制电路资讯,2002(3X):26-29.
-
5马玉华,卜瑞艳.对影响内引线键合可靠性的因素的分析与对策[J].半导体情报,1999,36(5):53-56. 被引量:6
-
6吉勇,高娜燕,燕英强,明雪飞,陈波,丁荣峥.硅基密封气密性及结构强度研究[J].电子与封装,2014,14(8):15-17. 被引量:1
-
7陈楠,熊瑛,郭亮,田扬超,刘刚.脉冲电镀优化金镀层性能的工艺研究[J].新技术新工艺,2016(9):7-11. 被引量:6
-
8吴燕,陈台琼.加强管壳检验工作,提高SAW器件的键合可靠性[J].压电与声光,2003,25(1):9-10.
-
9高来华,陈海燕.插头镀金线镀层厚度计算模型研究[J].印制电路信息,2014,22(4):50-54.
-
10郑利兵,韩立,刘钧,温旭辉.基于三维热电耦合有限元模型的IGBT失效形式温度特性研究[J].电工技术学报,2011,26(7):242-246. 被引量:41
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