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温度对硅晶体管有效基区展宽效应的影响

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作者 郑茳 冯耀兰
出处 《电子产品可靠性与环境试验》 1990年第3期31-33,共3页 Electronic Product Reliability and Environmental Testing
关键词 硅晶体管 温度 展宽效应 有效基区
分类号 TN325.2 [电子电信—物理电子学]
  • 相关文献
电子产品可靠性与环境试验
1990年 第3期

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