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硫化氢气氛对电连接器接触可靠性的影响 被引量:3

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摘要 本文研究了在不同的硫化氢浓度、温度和插拔频率下,镀银和镀金电连接器的硫化腐蚀现象,得出了不同条件下接触电阻随时间变化的关系,借助于SEM和AES分析了环境因素对接触电阻的影响及失效原因,得到了一些有意义的结论。
作者 苏竣 王其平
出处 《低压电器》 北大核心 1990年第1期16-19,共4页 Low Voltage Apparatus
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