期刊文献+

基于FPGA的智能误码测试方案 被引量:1

Intellective Scheme for BER Testing Based on FPGA
在线阅读 下载PDF
导出
摘要 分析特定系统通信传输的抗干扰能力,先要提取该系统在正常工作情况下的误码情况,再在此基础上对该系统的抗干扰能力进行全面分析。提出了一种基于FPGA的智能误码测试方案。先从基本组成入手,介绍误码分析仪各功能模块的作用和误码分析仪的工作过程,之后根据数字锁相环的基本原理,结合FPGA的结构特点设计了一种自适应的智能锁相的位同步法和序列同步法。 To analyze the communication performance of a certain system, BER of the system should be obtained first while in normal working conditions, based on which the anti-jammer capability of the system can be analyzed. An intellective scheme for BER testing based on FPGA is proposed. Firstly, the function of BER analyzer' s different modules and its working flow are presented. With the considering of the structure feature of FPGA, an adaptive and inteUective phase-locked scheme for bit and sequence synchronization is then proposed based on principle of digital phase-locked loop( DPLL).
出处 《测控技术》 CSCD 2006年第8期83-85,88,共4页 Measurement & Control Technology
关键词 M序列 现场可编程门阵列 位同步 序列同步 锁相 m sequence FPGA bit synchronization sequence synchronization phase-locked(PL)
  • 相关文献

参考文献2

  • 1赵曙光 郭万有 杨颂华.可编程逻辑器件原理、开发与应用[M].西安:西安电子科技大学出版社,2001..
  • 2曹志刚 钱亚生.现代通信原理[M].北京:清华大学出版社,2001.177-181.

共引文献41

同被引文献2

引证文献1

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部