减小尺寸（微细化）的集成电路可靠性
出处
《电子产品可靠性与环境试验》
1989年第4期28-32,共5页
Electronic Product Reliability and Environmental Testing
-
1曾纪科.集成电路可靠性的进展[J].电子产品可靠性与环境试验,1996,14(5):38-42. 被引量：1
-
2武俊齐.集成电路可靠性的进展[J].微电子学,1991,21(4):28-31. 被引量：1
-
3郭强,简维廷,黄宏嘉.集成电路可靠性介绍[J].集成电路应用,2008,25(7):52-52. 被引量：1
-
4门月.集成电路的工作原理及其可靠性[J].硅谷,2009(4):33-33.
-
5郝素荣.集成电路的原理及可靠性分析[J].电子制作,2013,21(4X):10-10. 被引量：1
-
6佟新蓉.俄罗斯集成电路可靠性评价技术特点[J].电子产品可靠性与环境试验,2004,22(4):57-59.
-
7雷凤霞.半导体集成电路可靠性测试及数据处理方法[J].天津中德职业技术学院学报,2015(4):100-102. 被引量：2
-
8“集成电路可靠性技术及发展”技术研讨会圆满结束[J].电子产品可靠性与环境试验,2004,22(5):68-68.
-
9钱方方.环氧模塑料可靠性试验失败原因的分析[J].集成电路应用,2002(6):56-59.
-
10罗俊,秦国林,邢宗锋,李志强.双极型集成电路可靠性技术[J].微电子学,2010,40(5):747-753. 被引量：8
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