用扫描电镜研究磁痕迹

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摘要本文用HITACHIS─570扫描电镜对磁痕迹进行了观察研究，得出了理想的实验结果，这对进一步探讨磁粉检测的机理必将是有益的。

作者杨诚成蔡振岩陶智

机构地区苏州大学

出处《无损探伤》 1996年第6期4-5,12,共3页 Nondestructive Testing Technology

关键词磁粉探伤无损探伤磁痕迹扫描电镜

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无损探伤

1996年第6期

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