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拟合法测半值层的缺陷与改进 被引量:1

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摘要 在电离辐射计量中,X辐射源半值层的检测占有很重要的地位。本文针对检测医用诊断X辐射源(下称辐射源)中的半值层测量方法及数据处理,从理论上分析和实验上证实了拟合法的缺陷因素;推荐了两种检测方法。该方法的理论将给修改规范半值层的检测方法提供了重要依据。
作者 马长征
出处 《计量技术》 1996年第12期29-30,39,共3页 Measurement Technique
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