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材料二次电子发射特性对表面充电过程影响的数值模拟研究 被引量:7

NUMERICAL SIMULATION OF THE EFFECTS OF SECONDARY ELECTRON EMISSION CHARACTERISTIC ON MATERIAL SURFACE CHARGING
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摘要 使用PIC方法,实现了地球同步轨道恶劣亚暴环境材料表面充电过程的数值模拟。从最大二次电子发射系数δm和δm对应的能量Em这2个方面,比较了不同二次电子发射特性下表面充电过程及最终平衡电位的异同。 The surface charging progress of material in geosynchronous environments is studied by means of electrostatic PIC code. The similarities and differences of charging process of the material with different characteristics of secondary electron emission characteristic is compared.
出处 《真空与低温》 2006年第2期87-90,共4页 Vacuum and Cryogenics
基金 真空低温技术与物理国家实验室基金(批准号:51475040203HT6001)资助
关键词 数值模拟 静电模型 PIC方法 表面充电 二次电子发射特性 numerical simulation electrostatics model particle in cell method surface charging secondary electron emission characteristic
  • 相关文献

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共引文献14

同被引文献92

引证文献7

二级引证文献38

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