摘要
在已有的数字电路测试生成算法基础上,通过对一种结构简单且容易实现的算法———粒子群算法的研究,提出了一种基于模拟的测试矢量生成的新方法,即应用粒子群算法来进行数字电路的测试生成.对一些组合电路进行了仿真,并将其与基于遗传算法的测试生成方法进行比较,实验结果表明该方法比基于遗传算法的测试生成更为有效.
A new approach to test generation is proposed for digital circuits based on particle swarm optimization. The test generation of combined circuits is simulated and compared with the one based on genetic algorithm. The experimental results show that the new method is much more effective than that of genetic algorithm.
出处
《应用科技》
CAS
2006年第6期14-17,共4页
Applied Science and Technology
基金
高等学校优秀青年教师教学科研奖励计划资助(2001-226)
关键词
粒子群算法
故障模拟
测试生成
数字电路
particle swarm optimization
fault simulation
test generation
digital circuits
