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射频溅射制备m0—Ge/SiO2多层膜
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摘要
射频溅射制备α-Ge/SiO2多层膜崔敬忠彭军张兴旺陈光华张仿清(兰州大学物理系,兰州730000)由于在非晶太阳能电池和半导体器件方面的重要性,α-Ge和α-SiO2得到了深入的研究[1,2].近年来,用共溅射的方法制备的Ge/SiO2纳米材料由...
作者
崔敬忠
彭军
机构地区
兰州大学物理系
出处
《兰州大学学报(自然科学版)》
CAS
CSCD
北大核心
1996年第1期145-146,共2页
Journal of Lanzhou University(Natural Sciences)
关键词
射频溅射法
二氧化硅
锗
薄膜
分类号
O484.1 [理学—固体物理]
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兰州大学学报(自然科学版)
1996年 第1期
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