彩电FBT中高压二极管失效分析

The Failure Analysis To High-voltage Diode Of Color TV FBT

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摘要以作者的实际工作经验为基础,阐述了彩电FBT 中高压二极管的几种失效模式及失效机理。 Elucidates several failure models and failure mechanism of high - voltage diode of color TV FBT based upon the experience of author work.

作者许铁华

机构地区江苏南通皋鑫电子股份有限公司

出处《电子质量》 1996年第6期31-33,共3页 Electronics Quality

关键词高压二极管失效彩电行输出变压器 High-voltage diode Failure Phenomenon Mechanism Analysis

分类号 TN949.7 [电子电信—信号与信息处理] TN313.1 [电子电信—物理电子学]

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1陈隆道.高压二极管正向特性自动测试仪[J].仪表技术,1994(3):17-19.
2陈隆道,应海雄.高压二极管反向电流自动测试仪[J].电子与仪表,1994(1):31-33.
3武深秋.微波炉常见故障的快速检修[J].家电科技（维修与培训）,2004(B12):15-15.
4高一星,查祎英,胡冬青.额定电流3200A的10kV HPT IGCT——大功率半导体发展的一个新的里程碑[J].电力电子,2010(6):63-66.
5许澄嘉,张丽珍.日立玻璃封装硅高压二极管[J].电子与自动化,1990,19(4):35-39.
6项兴荣.雪崩击穿特性的高压硅二极管[J].半导体技术,1997,13(5):35-37.
7赵富,葛涉欣,等.《高压二极管在FBT失效率中的地位》[J].广播电视技术,1991(2):2-9.
8高荣武.更换德律风根彩电“行变”的处理技巧[J].家电检修技术,2003(11):47-48.
9刘庆,王国栋,张春芳,周树梅,张美凤.塑封高压二极管芯片国产化试验[J].半导体技术,1990,6(3):8-11.
10蔡培林.半导体整流器件的重要分支──高压二极管[J].电子质量,2000(4):24-25.

电子质量

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