PCM编译码器CSC3057中单元电路的熔断微调测试原理

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摘要本文根据PCM编译码器CSC3057的内电路结构,简介了该电路的功能特点,并在此基础上论述了有关单元电路的熔断微调原理。文章对于制定此类电路的熔断测试方案,具有一定的指导意义。

作者吴可王玫沈永朝鲍顺光

机构地区中国华晶电子集团公司东南大学无线电系

出处《微电子测试》 1996年第2期12-16,共5页

关键词 PCM 编码器译码器熔断测试

参考文献1

1吴可,陈良栋,杜起麓,沈永潮,鲍顺光.CMOS PCM编译码器CSC_(3057)的内电路剖析及编码原理[J].微电子技术,1996,24(1):21-29.
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微电子测试

1996年第2期

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