耦合电容器末屏损耗因数的测量

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摘要耦合电容器受潮后，水分易沉聚底部，底部的绝缘首先受潮劣化。对耦合电容器运行中多起爆炸事故的调查分析，发现爆炸原因系底部受潮所致。为此，在交接试验和预防性试验中，增加了耦合电容器末屏对地损耗因素ｔｇδ的测试项目，这对分析和判断耦合电容器的绝缘状况，及时发现绝缘缺陷，保证设备安全运行起到了积极作用。

作者许惠英

机构地区邯郸电业局

出处《华北电力技术》 CAS 北大核心 1996年第11期29-31,共3页 North China Electric Power

关键词耦合电容器绝缘损耗因素测量电容器

分类号 TM531.3 [电气工程—电器]

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1996年第11期

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