混合型电路的内装式自测试(BIST)结构

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摘要模拟集成电路的复杂性和制造密度的提高,使得电路的测试成为一个重要同时又是困难的任务,传统的模拟电路的测试,被局限在外接一定数目的测试脚这种方式上。一种称为BIST结构的方法则完全不同,它不仅有着可控性、易于观测的特点,而且较之以前所报道过的方法,明显降低了电路测试的硬件费用。这种结构也同样适用于数字电路,并且适用于自动地插入电路进行测试。

作者 Larry Wurtz 戴长虹

出处《船电技术》 1996年第3期59-64,共6页 Marine Electric & Electronic Engineering

关键词混合型电路 BIST结构电路测试

分类号 TN710.7 [电子电信—电路与系统]

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