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端子模跳屑原因分析及解决措施 被引量:2

Reason Analysis and Solving Method to Outside Chip of Terminal Die
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摘要 分析了端子模跳屑产生的不同原因,归纳总结了各种解决措施的优缺点,以及各自的应用场合。对端子模设计、制造有较强的指导意义。 Different reasons caused outside chip o and disadvantages summarized, which of various solving can be a guidance steps and its f terminal die are analyzed, the advantages applicable circumstance are classified and to terminal die design and manufacture.
作者 欧阳波仪
出处 《模具制造》 2005年第11期26-28,共3页 Die & Mould Manufacture
关键词 跳屑 受力分析 产生原因 解决措施 原因分析 子模 归纳总结 outside chip load analysis caused reason solving method
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