摘要
选取聚酰亚胺(PI)作为有机高聚物基体,通过正硅酸乙酯及异丙醇铝在聚酰胺酸的 N,N-二甲基乙酰胺溶液中进行溶胶-凝胶反应,制备SiO2和Al2O3质量分数不同的聚酰亚胺杂 化薄膜．并且分别利用原子力显微镜、傅里叶变换红外光谱、热重分析和介电谱对两种(原始的和 掺杂的)薄膜的表面形貌、结构、热性能和介电性能进行了表征和测试．
Using polyimide as the matrix resin and by the Sol-Gel process of traethoxysilane （TEOS） and heteropropyl-aluminium in PAA solution of DMAc, polyimide composite film with a varied amount of SiO2 and Al2O3 was prepared. Two （original and dopped） PI films＇ surface morphology and structure were characterized and measured by IR, AFM,TGA and dielectric spectroscope.
出处
《哈尔滨理工大学学报》
CAS
2005年第5期84-87,共4页
Journal of Harbin University of Science and Technology
基金
国家自然科学基金资助项目(50373008)国家自然科学基金重点项目(50137010)黑龙江省攻关项目(GC04A216).
