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BiTiO_(3)单品电致疲劳裂纹扩展的原子力显微镜研究

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摘要 利用原子力显微镜(AFM)原位研究了BaTiO_3单晶压痕裂纹电致疲劳的扩展过程,以及交变电场引起的畴变和疲劳裂纹扩展的相关性.结果表明,正负交变电场并不引起裂纹尖端电畴的交替变化,而是在裂纹周围发生随机转变,随着电场交变次数的增加,止裂裂纹重新起裂扩展.
作者 王芳 宿彦京 何健英 乔利杰 褚武扬
机构地区 北京科技大学材料物理与化学系
出处 《科学通报》 EI CAS CSCD 北大核心 2005年第20期2296-2299,共4页 Chinese Science Bulletin
基金 国家自然科学基金(批准号:50571001) 教育部重点基金(批准号:104021)资助项目.
关键词 AFM 循环畴变 电致疲劳裂纹 BiTiO3 扩展性 原子力显微镜
分类号 TG115.213 [金属学及工艺—物理冶金]
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参考文献10

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共引文献2

科学通报
2005年 第20期

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