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淀积SiO2层后hFH值的增大现象
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作者
雍成文
出处
《半导体杂志》
1989年第2期55-55,共1页
关键词
SiO2层
hFH值
超高频
晶体管
淀积
分类号
TN304.055 [电子电信—物理电子学]
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0
1
雍成文.
对淀积SiO2层后hFE值增大现象的探讨[J]
.上海半导体,1989(2):52-53.
半导体杂志
1989年 第2期
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