摘要
通过对影响引信电子零部件长贮失效的主要环境因素（温度和湿度）分析，得出引信电子零部件长贮失效服从威布尔分布规律。单环境应力与双环境应力下分别满足阿伦尼斯和广义艾林模型，用恒定应力加速寿命试验方法，使温度和湿度相互作用加速效应等于零，推导出双环境应力下加速系数等于温度和湿度加速系数乘积。应用三组应力加速寿命试验的数据，计算出双环境应力下成布尔分布的形状参数、特征寿命、中位寿命等数值，从而估计出各种引信电于零部件长贮失效规律，对预测电子引信长贮可靠寿命，确定引信最佳贮存环境等具有一定参考价值。
出处
《现代引信》
CSCD
1996年第1期13-19,共7页
