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GaP:N,Zn中等电子陷阱与Zn受主之间的辐射复合

Radiative Recombination between Isoelectronic Trap and Zn Acceptor in GaP:N, Zn
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摘要 本文在17-100K的温度范围内对GaP:N,Zn样品进行了变温光致发光的研究.在低温下,观察到NN_3-Zn,Zn-LO的发光峰,其中NN_3-Zn是一个双峰结构.研究NN_1-Zn复合发光强度随温度的变化关系,表明了NN_1中心裸电子态的存在.本工作证实了NN_1和NN_3中心的HTL模型. The photoluminescence of Zn^+ implanted GaP:N has been studied at different temperatu-res ranging from 17 to 100K.At low temperatures NN_2-Zn and Zn-LO emission lines wereobserved. NN_2-Zn was a doublet.Analysing the temperature dependence of NN_1-Zn emission,it showed the existence of bare electron bound state for NN_1 center.This work further con-firms the HTL model for NN_1 and NN_2 centers.
机构地区 厦门大学物理系
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1989年第9期717-721,共5页 半导体学报(英文版)
基金 国家自然科学基金
关键词 GaP:N Zn 光致发光 束缚激子 GaP:N Zn Photoluminescence Bound exciton
  • 相关文献

参考文献2

  • 1郑健生,中国科学.A,1986年,29卷,870页
  • 2颜炳章,厦门大学学报,1981年,2期,185页

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